HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高温高湿偏压应力测试,是通过对样品施加高温高压高湿应力,实现对产品的加速老化试验,从而确认芯片或者其他半导体器件的可靠性。

由于通过常规温湿度的环境来激发迁移的发生,通常需要一个比较漫长的周期,甚至动辄1000h或2000h,对于一些产品开发周期较短的产品来说,这样的试验周期会拖后腿。

HAST测试通过提高环境应力(温度&湿度&压力),在不饱和湿度环境下(湿度:85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间,用来评定PCB压合&绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%/1000h→110℃/85%/264h)。

PCB电路板为确保其长时间使用质量与可靠度,需进行SIR (Surface Insulation Resistance)表面绝缘电阻的试验,透过高压加速老化寿命试验箱的试验找出PCB是否会发生MIG(离子迁移)与CAF(玻纤纱阳极性漏电)现象。离子迁移与是在加湿状态下(如:85℃/85%R.H.),施加恒定偏压(如:50V),离子化金属向相反电极间移动(阴极向阳极生长),相对电极还原成原来的金属并析出树枝状金属的现象。这种迁移往往会造成PCB导体间短路问题,是PCB非常重要的检测项目。

广州维柯多通道 SIR/CAF实时监控测试系统适用于IPC-TM-650标准,有低压,高压,超高压多种测试电压,使用板卡设计,16-256通道可供选择,配合HAST试验机,通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理,客户根据需要可导出为Excel表格式,更好的对测试样品进行分析。

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